关于如何判断光谱仪的分辨率，我目前收集到的资料有以下几种方法：
1.通过点列图设置两个波长（例如500nm和500.5nm的波长），如果在点列图中可以分得开，那么就判断这个系统在这个波长下的分辨率优于0.5nm。使用这种方法应该是最直观的，但是无法进行量化还有优化，我只能知道优于0.5nm，但是再往下缩，两条光斑叠一起了，怎么分辨这分辨率是0.47还是0.45，到减小波长间距之后肉眼的判定是不是就比较主观，优化也比较难。
2.通过惠更斯PSF去判定，在
zemax官方的教程中，Ansys Zemax | 如何设计光谱仪——实际应用_光谱仪 zemax设计文件-CSDN博客，此处结合CCD的像元大小，通过两个峰可否分开来进行判定，但是不知道各位有没有用过这个方法，我通过更改光瞳采样和像面采样，发现对应的结果不太一样（我这里只有两个波长，分别是500nm和500.5nm），理论上采样的数量越多就应该越精确的，所以这个判定感觉和我的设置采样率有关系，我设置的采样率密自然就能看见两个分得开的峰了。也有可能是我的操作的问题？所以我也想知道用这个工具进行判定的，具体是应该怎么操作比较好。
3.还有看到有一些宏的应用，但是对于zemax宏我不太会用，也没有源文件（如果有好的宏文件大佬可以分享一下吗，愿意花金币下载哈哈）
所以想请问一下各位在做光谱仪设计的时候，有什么方法可以对分辨率进行一个量化吗？最好是可以结合ccd的相元尺寸进行判断。以便于进一步优化系统。
发表于 2024-7-19 10:50