[求助] 非序列模式优化时 怎么限定光斑大小

想做一个透镜系统使得在某个面上的光斑符合设定的大小，而且光强尽可能均匀。

在非序列优化时，采用了NSDD来获取光强的方差，并且优化使方差尽量小；但是却没找到限制光斑大小的好方法。我想到一个办法是，因为前面系统的透过率基本上不随优化参数改变，所以无论光斑多大，在Detector面上的总功率基本是一定的，这样想控制光斑大小，只要把NSDD里面的每个pixel的平均功率当作Operand就好了。

但这方法不行。无论我是设定每个pixel的平均功率作为一个Target, 还是用OPLT, OPGT两个一起限制其在一个小范围内波动，并且无论我如何调整权重，最后这个限制条件一定会被违反。我想可能是Zemax里面优化时，限制条件被违反只是给Merit Function增加一个惩罚而已，所以即使违反了，只要MF一直在变小，优化就会继续。

所以就想问，可以在优化里加入严格的, 不可以被违反的限制条件吗？ 在非序列模式里，有没有可以直接利用的，描述几何光斑大小的Operand呢（我知道NSDD里有RMS半径）？

我是新手，很可能很多常用的简单功能都还不熟悉。望大家包含。十分感谢。