[求助] [已解决]关于对称性C-T光谱仪Zemax模拟的一些问题

本人是一个光设菜菜，最近要使用Zemax模拟对称性C-T结构光谱仪，遇到了一些问题，拜托各位大佬帮忙解答一下！！
现在是在zemx自带的光谱仪模型中进行了一些修改，现在设计的图在下面，应该还是很粗糙。现在就是有些不太清楚要评判像差矫正情况，如果是看点列图的话，应该是看像面上的狭缝像的大小形状还是看焦点光斑的质量。顺便还想问一下，光谱仪设计一般会用到哪些操作数优化呐？对很多操作数不太了解具体用途，目前就知道光斑RMS最小很基本的，但应该不够吧，想请教有经验的大佬指点一下，感谢！！

主要是看狭缝像的质量

要明确设计光谱仪的分辨率，比如想达到1nm的分辨率，在波长设置处RGB三个波长附近多设几个波长，以G光550nm为例，设置551、550、549，看它们的光斑能不能分开来。

请问可以把zemax文件发一下吗？

优化方面：
主要针对色散方向Y方向RMS半径优化；
其他方面一是要控制放大率，狭缝宽度需和使用的像元宽度对应；
控制谱面宽度；
x和y方向能量集中度，x方向光斑不能太长了；
光栅入射角；
光线遮拦等。