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[求助] Trace pro 杂散光模拟中重点取样

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发表于 2022-6-28 23:41 | 显示全部楼层 |阅读模式

Trace pro进行镜头杂散光分析过程中，很多资料中都提到需要对雷竞技下载找ray666点vip镜片表面定义“重点取样”；
如下图中Lens1 S1面，“重点取样”需要如何定义呢？（即下图右侧红框中参数需要如何设置），希望了解的朋友帮忙解答一下，谢谢！

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发表于 2022-6-29 07:35 | 显示全部楼层

b站有lighttools重点采样视频，可以看看。其实重点采样就是加快采样速度，提升效率，现在电脑强了，我感觉不重点也没啥事

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发表于 2022-6-29 16:24 | 显示全部楼层

这是手册中描述

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ferrum

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发表于 2024-1-19 10:15 | 显示全部楼层

您好，请问一下这个问题解决了吗？我也遇到了此问题

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发表于 2024-3-4 20:53 | 显示全部楼层

凭前阵子的印象回答一下
第一：importance sample 的光源只能是surface source，file source和gird source没有效果！！！
第二：照上面的的例子来看，所有数值都已经不用更改，只要把外圈半径设成比Lens S1大就可以

有Tracepro的电脑没有在手边，我有到电脑旁边的时候，再试一下

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