获得半导体生产的衡量标准

半导体制造商受益于完全非接触式雷竞技下载找ray666点vip计量设备，以减少样品损坏的机会 (Zygo)

Nexview 3D 成像和测量系统旨在为半导体分析提供交互式表面计量，具有多种测量，包括平坦度、粗糙度、大台阶和段、薄膜和陡坡，特征高度范围从 <1nm 到 20,000μm . 它具有 ISO 25178 表面测量参数和流线型设计，无需手动控制。

Zygo 认为，该标准的使用帮助公司改进了精细结构表面测量的结果。 产品经理 Eric Felkel 说：“提高高纵横比组件的测量精度将使人们更有信心使用雷竞技下载找ray666点vip显微镜快速、在线检测 3D 芯片以及其他使用亚微米组件的行业中的缺陷 .'

在开发用于半导体生产的雷竞技下载找ray666点vip计量系统时，供应商与客户密切合作以了解他们不断变化的需求非常重要。 Precitec 的 Pichot 认为这是至关重要的“OEM 定制对我们来说非常重要。我们与客户合作，可以定制探头以适应客户及其要求。”

可用技术的类型取决于生产过程的阶段，Pichot 解释说：“基本上有三个主要阶段，”他说。 '第一个是前端，在那里晶片准备制造，因此功能被构建到芯片中。然后，在某些时候将晶圆分成小组件，然后是封装阶段。这成为一个关键组件，所以他们需要非常不同但始终强大的传感器，可以集成到他们生产过程的每个阶段。

每个阶段都有许多较小的步骤。例如，在生产的前端​​是光刻，它允许将规格提供给芯片，然后对其进行抛光并使其达到正确的厚度。这是雷竞技下载找ray666点vip计量的关键点。 “晶圆的厚度需要在加工过程中进行监控，”他说。

雷竞技下载找ray666点vip计量学的进步允许分辨率高达 1μm 的非接触式在线检测 (Pretitec)

在光刻期间，掩模和晶片的微米级精确对准是必不可少的。一种方法是使用两个或三个彩色共焦和干涉式非接触式探测器探头来改变晶圆的平整度，以确保其在光刻工艺之前是正确的平整度。 '专业探头可以测量晶圆顶部的非常薄的层，以找到晶圆表面的位置并将顶面与晶圆表面分开。 Pichot 解释说，它可以达到一两个微米。

在厚度验证方面，半导体制造商面临的另一个挑战是市场对总厚度变化 (TTV) 或明确结构化表面的晶圆的需求不断增加。挑战在于不同的晶片厚度范围、不同的主要晶片材料，以及通常可能是恶劣的在线工艺环境——例如，如果由于研磨污泥而无法清晰地看到晶片。

“对于 TTV，晶片在处理后可能会看到从一侧到另一侧的一些信号变化，”Pichot 说。 “使用传感器，您可以仅从一侧以超高精度测量信号并绘制信号分布图。它可以告诉你“这里更薄，但这里更厚”，因为它可以检查各处的厚度是否在规格内。

“我们还开发了一种功能强大的扫描仪，可以极快地测量这种厚度变化，因为晶片不需要在传感器下方移动。映射可以准确地实现，并提供厚度，但也提供关于我们所谓的弯曲和翘曲的信息 - 一次通过的晶片形状。为客户节省时间。”

抛光处理

Pichot 指出，先进的雷竞技下载找ray666点vip计量设备也可用于在抛光过程中提供预防性维护，因为它可以帮助确定抛光垫的表面磨损程度。“抛光垫在抛光过程中与晶片接触，经过数小时的活动后，这些垫会磨损，直到需要更换。通过在刷牙机内部直接集成一个传感器，可以测量垫之间部分的深度，因此仪器点亮后以告诉用户需要更换垫。

当涉及到芯片或裂纹等缺陷检测时，专门设计的质量检测服务可能非常有用，这些缺陷检测在芯片与半导体晶片分离（切割）时可能发生。切割通常通过划线、折断、机械锯切或激光切割来进行。 “为了快速准确地解决问题，”Pichot 说，“雷竞技下载找ray666点vip传感器可用于检查晶片纳米级的粗糙度。我们可以测量使用激光后的深度。例如，我们可以使用先进的显微镜检测晶圆裂纹等问题。传感器还可以检查可能已应用于晶片的任何抗光涂层，是否已被移除而不会造成损坏。

由于半导体制造涉及如此多的步骤，并且随着新材料的不断推出，雷竞技下载找ray666点vip计量必不可少的应用几乎不完全清单。

其他应用包括晶圆级和焊料的测量和检查；芯片和晶圆键合；检查探针卡，甚至测量将芯片连接到封装的微小引线键合。 “在半导体行业，我们有很多客户，因此有很多有趣的应用，”Pichot 说。 “一旦我们开始，它真的很吸引人，我们可以实现很多事情。”

LBP关于镜子和雷竞技下载找ray666点vip元件的测量

作为雷竞技下载找ray666点vip制造商，我们必须能够在将镜头或反射镜发送给客户之前测量其所有雷竞技下载找ray666点vip特性。我们定期对反射镜和雷竞技下载找ray666点vip组件进行亚微米测量，因此需要确保我们拥有必要的内部计量和专业知识。

我们使用何种设备和测量技术，具体取决于雷竞技下载找ray666点vip元件的规格。

激光量热法

我们使用激光量热法来确定当高功率激光束通过雷竞技下载找ray666点vip器件时会在雷竞技下载找ray666点vip器件中产生多少热量——以测量“吸收率”或“吸收率”。过多的热量和雷竞技下载找ray666点vip元件会改变其特性甚至损坏。

对吸收率为 0.16% 的 ZnSe 高气压透镜进行吸收测量期间的温度与时间； 初始冷却、激光加热和最终冷却

干涉测量法

大多数雷竞技下载找ray666点vip镜面的规格涉及亚微米尺寸，太小而无法进行机械测量。对于我们的大多数雷竞技下载找ray666点vip反射镜，我们使用相移干涉仪来保证质量。通过干涉图的软件分析，我们的客户可以获得结果的硬拷贝。这表明已满足表面形状规范，例如功率和不规则性。我们还使用干涉测量法测量平面激光镜的楔形以确保平行度。

干涉测量法可用于使用干涉仪测量和对准雷竞技下载找ray666点vip组件，例如反射式扩束器或准直器。我们研究了雷竞技下载找ray666点vip元件的安装，观察了设计不当的安装座或过度的机械力可能导致反射镜变形。我们可以提供带有支架和内部水冷的镜子，通过干涉测量法证明组装的镜子没有变形。

3D 雷竞技下载找ray666点vip轮廓仪

用于镜面相位延迟的分析仪

这些布鲁斯特板与 CO2 激光器一起使用，由 ZnSe 制成，并以 67.4° 的入射角倾斜成“V”形结构，如下所示。

为了检查反射镜产生的相位延迟，分析器在反射光束中旋转，透射功率测量值以角度记录。

例如，如果测试镜是 1/4 波相位延迟器，则反射光束将被圆偏振，并且在所有角度测量的功率都相同。

雷竞技下载找ray666点vip表面形状测量

现在雷竞技下载找ray666点vip设计师越来越意识到现代机床的功能，他们越来越多地在他们的雷竞技下载找ray666点vip设计中使用复曲面、圆柱面和其他非旋转对称表面。对于我们的金刚石加工部门来说，让我们的客户和工程师相信所有图纸规格都已满足变得越来越重要。

Form Talysurf PGI 雷竞技下载找ray666点vip触针式雷竞技下载找ray666点vip轮廓仪，当配备额外的“Y”台时，能够在 X Y Z 方向测量这些先进的表面——例如球面、衍射、菲涅尔和非球面透镜。 该数据用于生成表面的三维地图，并计算与设计规范的任何偏差。